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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...

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汪島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Patent analysis of atomic force microscope
作者:	汪島軍,
出版地:	臺北市
出版者:	科資中心;
出版年:	民93[2004]
版本:	第一版
面頁冊數:	[9],125面圖,表 : 30公分;
集叢名:	奈米科技專利研究系列第8輯
標題:	奈米技術 -
標題:	電子顯微鏡 -
附註:	附錄:AFM專利摘要表等2種
ISBN:	957-619-117-3

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 民93[2004]. - [9],125面 ; 圖,表 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 第8輯).
附錄:AFM專利摘要表等2種參考書目:面63.
ISBN 957-619-117-3
奈米技術電子顯微鏡

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
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館藏

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尋書單

典藏地名稱

館藏流通類別

0088825

圖書館書庫區

L可借閱

中文圖書

471.73 3123 2004

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