語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
奈米科技與檢測技術
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:
彭國勝,
其他作者:
王振宇,
其他作者:
羅慧娟,
出版地:
新竹市
出版者:
工研院量測中心;
出版年:
民92
版本:
初版
面頁冊數:
[11],217面圖,表格 : 26公分;
標題:
奈米技術 -
附註:
含索引
ISBN:
957-774-602-0
奈米科技與檢測技術
奈米科技與檢測技術
/ 彭國勝,王振宇,羅慧娟執行編輯 - 初版. - 新竹市 : 工研院量測中心, 民92. - [11],217面 ; 圖,表格 ; 26公分.
含索引.
ISBN 957-774-602-0
奈米技術
彭, 國勝
奈米科技與檢測技術
LDR
:00554nam0 2200193 450
001
322652
005
20130114161611
009
116088
010
0
$a
957-774-602-0
$b
平裝
$d
NT$600
100
$a
20051107d2003 m y0chiy09 e
101
0
$a
chi
102
$a
tw
105
$a
ak z 001yy
200
1
$a
奈米科技與檢測技術
$f
彭國勝,王振宇,羅慧娟執行編輯
205
$a
初版
210
$a
新竹市
$c
工研院量測中心
$d
民92
215
0
$a
[11],217面
$c
圖,表格
$d
26公分
300
$a
含索引
606
$a
奈米技術
$3
282443
681
$a
440.7
$b
4267
$v
增訂八版
702
1
$a
彭
$b
國勝
$4
執行編輯
$3
409432
702
1
$a
王
$b
振宇
$4
執行編輯
$3
409433
702
1
$a
羅
$b
慧娟
$4
執行編輯
$3
291739
801
0
$a
tw
$b
明道管理學院
$c
20051107
$g
CCR
筆 0 讀者評論
全部
圖書館書庫區
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
尋書單
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約人數
備註欄
附件
列印
0140508
圖書館書庫區
L可借閱
中文圖書
440.7 4267 2003
一般(Normal)
在架上
0
1 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
修改密碼
登入