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表面分析(XPS和AES)引論
~
Watts,, John F.
表面分析(XPS和AES)引論
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
譯自:
An introduction to surface analysis by XPS and AES
作者:
沃茨
其他作者:
沃斯騰霍姆
其他作者:
吳正龍,
出版地:
上海市
出版者:
華東理工大學出版社;
出版年:
2008.01[民97]
版本:
第1版
面頁冊數:
144,[1]面圖,表 : 24公分;
集叢名:
當代材料科學與工程譯叢
標題:
X射線 -
附註:
簡體字本
ISBN:
978-7-5628-2226-4
表面分析(XPS和AES)引論
沃茨
表面分析(XPS和AES)引論
/ [英]John F. Watts, John Wolstenholme原著 ; 吳正龍譯 - 第1版. - 上海市 : 華東理工大學出版社, 2008.01[民97]. - 144,[1]面 ; 圖,表 ; 24公分. - (當代材料科學與工程譯叢).
簡體字本含參考書目及索引附錄:俄歇電子能量等2種.
ISBN 978-7-5628-2226-4
X射線
沃斯騰霍姆
表面分析(XPS和AES)引論
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表面分析(XPS和AES)引論
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[英]John F. Watts, John Wolstenholme原著
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附錄:俄歇電子能量等2種
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