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納米薄膜分析基礎
~
Alford,, T. L.
納米薄膜分析基礎
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
譯自:
Fundamentals of nanoscale film analysis
作者:
阿爾弗德
其他作者:
費爾德曼
其他作者:
梅爾
出版地:
北京市
出版者:
科學出版社;
出版年:
2008.06[民94]
版本:
第一版
面頁冊數:
336面圖,表 : 23公分;
集叢名:
國外物理名著系列17
標題:
奈米技術 -
標題:
薄膜 -
附註:
含索引
ISBN:
978-7-03-022259-6
納米薄膜分析基礎
阿爾弗德
納米薄膜分析基礎
/ T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer編著 - 第一版. - 北京市 : 科學出版社, 2008.06[民94]. - 336面 ; 圖,表 ; 23公分. - (國外物理名著系列 ; 17).
含索引影印版主要內容為英文.
ISBN 978-7-03-022259-6
奈米技術薄膜
費爾德曼
納米薄膜分析基礎
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納米薄膜分析基礎
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北京市
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