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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...
~
汪島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Patent analysis of atomic force microscope
作者:
汪島軍,
出版地:
臺北市
出版者:
科資中心;
出版年:
民93[2004]
版本:
第一版
面頁冊數:
[9],125面圖,表 : 30公分;
集叢名:
奈米科技專利研究系列第8輯
標題:
奈米技術 -
標題:
電子顯微鏡 -
附註:
附錄:AFM專利摘要表等2種
ISBN:
957-619-117-3
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析
= Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 民93[2004]. - [9],125面 ; 圖,表 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 第8輯).
附錄:AFM專利摘要表等2種參考書目:面63.
ISBN 957-619-117-3
奈米技術電子顯微鏡
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
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471.73 3123 2004
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